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J-GLOBAL ID：200902141578386496   整理番号：01A0552144

走査型プローブ顕微鏡(SPM)による低電界放出ダイヤモンド膜の特性

Characteristics of low field-emission diamond films by scanning probe microscopy(SPM).

著者 (4件)： ZHANG L (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN) ,  SAKAI T (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN) ,  SAKUMA N (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN) ,  ONO T (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
資料名： Diamond and Related Materials  (Diamond and Related Materials)
巻： 10  号： 3/7  ページ： 829-833  発行年： 2001年03月 
JST資料番号： W0498A  ISSN： 0925-9635  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 2段階熱フィラメントCVD法で作製した多結晶ダイヤモンド膜の...

シソーラス用語： 走査型プローブ顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 熱電子放出,電界放出  (BM09020S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査型プローブ顕微鏡 ,  SPM ,  電界放出 ,  ダイヤモンド膜