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J-GLOBAL ID:200902145676400516   整理番号:98A0366702

走査型非線形誘電率顕微鏡

Scanning nonlinear dielectric microscope.
著者 (1件):
資料名:
巻: 67  号:ページ: 327-331  発行年: 1998年03月 
JST資料番号: F0252A  ISSN: 0369-8009  CODEN: OYBSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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強誘電材料の永久分極の状態や結晶性を評価する新しい原理に基づ...
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分類 (1件):
分類
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誘電体測定技術・装置 
引用文献 (14件):
  • 1) Y. Cho and K. Yamanouchi: J. Appl. Phys. 61, 1728 (1987).
  • 2) Y. Cho, S. Haitsuka and M. Kadota: Jpn. J. Appl. Phys. 33, 3031 (1994).
  • 3) Y. Cho and K. Yamanouchi: J. Appl. Phys. 61, 875 (1987).
  • 4) Y. Cho and F. Matsuno: Jpn. J. Appl. Phys. 31, 3627 (1992).
  • 5) Y. Cho and F. Matsuno: Rev. Sci. Instrum. 64, 1244 (1993).
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