研究者
J-GLOBAL ID:200901003907438870   更新日: 2024年04月30日

長 康雄

チョウ ヤスオ | Cho Yasuo
所属機関・部署:
職名: 特任教授
ホームページURL (1件): http://d-nanodev.niche.tohoku.ac.jp/
研究分野 (1件): 電子デバイス、電子機器
研究キーワード (6件): 半導体計測 ,  強誘電体記録 ,  走査型非線形誘電率顕微鏡 ,  薄膜表面界面物性 ,  電子デバイス ,  応用物理学
競争的資金等の研究課題 (53件):
  • 2021 - 2023 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたGaN-MOSの高性能化に資する計測評価
  • 2021 - 2023 キャリアトラップサイトの原子構造とダイナミクスの解明
  • 2016 - 2022 非線形誘電率顕微鏡法を用いた界面電荷輸送現象における諸問題の起源解明
  • 2014 - 2019 超高次非線形誘電率顕微鏡法を用いたSiC基板材料及びパワーエレクトロニクス素子の高性能化に資する評価技術の開発
  • 2015 - 2018 走査型非線形誘電率顕微法による極性反転圧電薄膜の層状構造測定法の研究
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論文 (402件):
  • Yoshiomi Hiranaga, Yuki Noguchi, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho. Data-Driven Analysis of High-Resolution Hyperspectral Image Data Sets through Nanoscale Capacitance-Voltage Measurements to Visualize Ferroelectric Domain Dynamics. ACS Applied Nano Materials. 2024. 7. 8. 8525-8536
  • Kohei Yamasue, Yasuo Cho. Correlation analysis on local capacitance-voltage profiles of a SiO<sub>2</sub>/SiC interface observed by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy. 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM). 2023
  • Kohei Yamasue, Yasuo Cho. Local capacitance-voltage profiling and deep level transient spectroscopy of SiO2/SiC interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy. Microelectronics Reliability. 2022. 135. 114588-114588
  • Yoshiomi Hiranaga, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho. Nanoscale mapping to assess the asymmetry of local C-V curves obtained from ferroelectric materials. Japanese Journal of Applied Physics. 2022. 61. SN. SN1014-SN1014
  • Kohei Yamasue, Yasuo Cho. Surface Potential Fluctuations of SiO<sub>2</sub>/SiC Interfaces Investigated by Local Capacitance-Voltage Profiling Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy. Materials Science Forum. 2022. 1062. 335-340
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MISC (128件):
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特許 (60件):
  • 透磁率測定装置
  • 記録再生ヘッド及び記録再生装置
  • DATA RECORDING/REPRODUCING APPARATUS AND METHOD USING NEEDLE-SHAPED MEMBER
  • 誘電体情報装置,テープ状媒体記録再生装置及びディスク状媒体記録再生装置
  • 走査型非線形誘電率顕微鏡を応用した超高感度変位計測方式
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書籍 (19件):
  • Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy - Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices -
    ELSEVIER 2020 ISBN:9780128172469
  • マイクロビームアナリシス・ハンドブック
    オーム社 2014 ISBN:9784274504969
  • Innovative Graphene Technologies: Evaluation and Applications Volume 2
    SMITHERS RAPRA TECHNOLOGY LTD, 2013 2013 ISBN:9781909030213
  • Applied Scanning Probe Methods X-Biomimetics and Industrial Applications-
    Springer 2008 ISBN:9783540740841
  • Roadmap of Scanning Probe Microscopy
    Springer (Germany) 2006
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講演・口頭発表等 (935件):
  • 局所C-Vマップの画像処理に基づくナノスケール強誘電分極反転ダイナミクスの解析
    (第71回応用物理学会春季学術講演会 2024)
  • 周期的傾斜分極反転構造とベタ電極からなるSAWデバイス
    (第71回応用物理学会春季学術講演会 2024)
  • LiNbO3単結晶のstress free電歪定数と非線形誘電定数の計測
    (第71回応用物理学会春季学術講演会 2024)
  • 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡による局所MOS容量-電圧特性測定とゆらぎ解析
    (第71回応用物理学会春季学術講演会 2024)
  • 走査型プローブ顕微鏡が切り開く表面科学と電子デバイス応用への展開~走査型非線形誘電率顕微鏡を中心として~
    (第68回数理工学センター(MCME)セミナー 2024)
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学位 (1件):
  • 工学博士 (東北大学)
委員歴 (38件):
  • 2018/11 - 現在 ナノテスティング学会企画運営委員会 企画運営委員
  • 2012/04 - 現在 Japan-Korea Conference on Ferroelectricity Organizing Committee委員
  • 2019/12 - 2022/03 日本誘電体学会 理事・副会長
  • 2006/04 - 2022/03 強誘電体応用会議 論文委員,運営委員
  • 2012/04 - 2013/03 International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy Program Committee 委員
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受賞 (14件):
  • 2018/09 - 応用物理学会 第40回応用物理学会論文賞(応用物理学会解説論文賞) High resolution characterizations of fine structure of semiconductor device and material using scanning nonlinear dielectric microscopy
  • 2015/04/15 - 文部科学省 文部科学大臣 平成27年度 科学技術分野の文部科学大臣表彰 科学技術賞 開発部門 走査型非線形誘電率顕微鏡法の開発
  • 2014/10/09 - 公益財団法人 服部報公会 2014年服部報公会「報公賞」 非線形誘電率顕微鏡の発明・実用化と電子デバイス開発への応用
  • 2009/09/29 - ISIF<SUP>2</SUP>(Inrernational Symposium on Integrated Ferroelectrics and Functionalities) ISIF<SUP>2</SUP> OUTSTANDING ACHIEVEMENT AWARD For work in scanning nonlinear dielectric microscopy in the field of Ferroelectric Materials
  • 2008/04/08 - The Japan Society of Applied Physics JJAP Editorial Contribution Award
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所属学会 (6件):
日本HDD協会 ,  日本誘電体学会 ,  日本音響学会 ,  応用物理学会 ,  電子情報通信学会 ,  米国電気電子学会(The Institute of Electrical and Electronics Engineers,Inc.)
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