フレキシブル薄膜埋込抵抗の信頼性と薄膜埋込キャパシタ,インダクタの電気的評価

FAIRCHILD K; MORCAN G; LENIHAN T; BROWN W; SCHAPER L; ANG S; SOMMERS W; PARKERSON J; GLOVER M

文献

J-GLOBAL ID：200902146896309770 整理番号：98A0104937

フレキシブル薄膜埋込抵抗の信頼性と薄膜埋込キャパシタ,インダクタの電気的評価

Reliability of Flexible Thin-Film Embedded Resistors and Electrical Characterization of Thin-Film Embedded Capacitors and Inductors.

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FAIRCHILD K

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Proceedings. Electronic Components & Technology Conference (Proceedings. Electronic Components & Technology Conference)

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巻： 47th ページ： 730-738 発行年： 1997年
JST資料番号： H0393A ISSN： 0569-5503 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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