文献

J-GLOBAL ID：200902147524134902   整理番号：99A0036589

フェムト秒スペクトル計測技術および半導体非線形分光への応用

Femtosecond spectrum sampling technology and its applications to nonlinear spectroscopy of semiconductors.

著者 (1件)： 小川憲介 (フェムト秒テクノロジー研究機構)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 98  号： 342(LQE98 73-87)  ページ： 59-64  発行年： 1998年10月21日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 高速遅延時間掃引ユニットとメガヘルツ帯位相同期デユアル変調に...

シソーラス用語： フェムト秒 ,...
準シソーラス用語： 非線形分光

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (5件)：

• EDELSTEIN, D. C. Rev. Sci. Instrum. 1991, 62, 579
• OGAWA, K. Ultrafast Phenomena 1998 Technical Digest. 1998, 32
• OGAWA, K. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 297
• WEGENER, M. Phys. Rev. B. 1989, B39, 12974
• SHEN, Y. R. The Principles of Nonlinear Optics. 1984, 325

タイトルに関連する用語 (5件)： フェムト秒 ,  スペクトル計測 ,  非線形 ,  分光 ,  応用