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J-GLOBAL ID:200902149204888197   整理番号:00A0849868

1nmの精度をもつ遠視野蛍光顕微鏡法におけるサブ分解能の軸距離の測定

Subresolution axial distance measurements in far-field fluorescence microscopy with precision of 1 nanometer.
著者 (3件):
資料名:
巻: 71  号:ページ: 2742-2745  発行年: 2000年07月 
JST資料番号: D0517A  ISSN: 0034-6748  CODEN: RSINAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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回折の分解能の限界に近い蛍光物体は,それらが異なる放出スペク...
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分類 (1件):
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光学的測定とその装置一般 
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