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J-GLOBAL ID：200902149971366767   整理番号：94A0419402

偏光子と検光子を同期して回転して行う走査偏光解析装置の設計

Design of a scanning ellipsometer by synchronous rotation of the polarizer and analyzer.

著者 (5件)： CHEN L-Y (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  FENG X-W (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  SU Y (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  MA H-Z (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  QIAN Y-H (Fudan Univ., Shanghai, CHN)
資料名： Applied Optics  (Applied Optics)
巻： 33  号： 7  ページ： 1299-1305  発行年： 1994年03月01日 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 1559-128X  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 3500~8000Å波長域で物質の光学定数を検討するための新...

シソーラス用語： 偏光子 ,...

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分類 (1件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (5件)： 偏光子 ,  検光子 ,  走査 ,  偏光解析装置 ,  設計