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J-GLOBAL ID：200902150565313871   整理番号：93A0800378

Ga0.5In0.5Pの短範囲規則構造の高分解能電子顕微鏡観察

High-Resolution Electron Microscopy of Short-Range Ordered Structure of Ga0.5In0.5P.
著者 (6件)：
SHINDO D

SHINDO D について

(Tohoku Univ., Sendai, JPN)

Tohoku Univ., Sendai, JPN について

, 
HIRAGA K

HIRAGA K について

(Tohoku Univ., Sendai, JPN)

Tohoku Univ., Sendai, JPN について

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IIJIMA S

IIJIMA S について

(NEC Corp., Tsukuba, JPN)

NEC Corp., Tsukuba, JPN について

, 
KUDOH J

KUDOH J について

(Tohoku Univ., Sendai, JPN)

Tohoku Univ., Sendai, JPN について

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NEMOTO Y

NEMOTO Y について

(Tohoku Univ., Sendai, JPN)

Tohoku Univ., Sendai, JPN について

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OIKAWA T

OIKAWA T について

(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)

JEOL Ltd., Tokyo, JPN について


資料名：
Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)

Journal of Electron Microscopy について


巻： 42  号： 4  ページ： 227-230  発行年： 1993年08月 
JST資料番号： G0104A  ISSN： 0022-0744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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入射ビームに平行な原子コラム中のInの濃度と電子顕微鏡像中の...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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ガリウム化合物

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分類 (1件)：
分類
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顕微鏡法 
(BK01040E)

顕微鏡法 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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規則構造

規則構造 について

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高分解能電子顕微鏡観察

高分解能電子顕微鏡観察 について


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