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J-GLOBAL ID：200902150595280714   整理番号：93A0773874

Electron Compton scattering in a symmetric two-beam scattering geometry.

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著者 (2件)：
JOANS P

JOANS P について

(Technische Univ. Wien, Wien)

Technische Univ. Wien, Wien について

, 
SCHATTSCHNEIDER P

SCHATTSCHNEIDER P について

(Technische Univ. Wien, Wien)

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資料名：
Microscopy, Microanalysis, Microstructures  (Microscopy, Microanalysis, Microstructures)

Microscopy, Microanalysis, Microstructures について


巻： 4  号： 1  ページ： 63-85  発行年： 1993年02月 
JST資料番号： H0777B  ISSN： 1154-2799  CODEN： MMMIEY  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： フランス (FRA)  言語： 英語 (EN)

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