文献

J-GLOBAL ID：200902155738530212   整理番号：97A0123866

広帯域連続波多モード半導体レーザに基づいた高分解能光時間領域反射率測定

High-Resolution Optical Time Domain Reflectmetry Based on a Broadband Continuous Wave Multimode Laser Diode.

著者 (4件)： WANG Y (Advantest Corp., Saitama, JPN) ,  FUNABA T (Yamagata Univ., Yonezawa, JPN) ,  ICHIMURA T (Yamagata Univ., Yonezawa, JPN) ,  TAN-NO N (Yamagata Univ., Yonezawa, JPN)
資料名： Optical Review  (Optical Review)
巻： 3  号： 6B  ページ： 556-559  発行年： 1996年11月 
JST資料番号： L2272A  ISSN： 1340-6000  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： しきい値以下のバイアス電流で多モード半導体レーザを動作するこ...

シソーラス用語： 反射率計 ,...
準シソーラス用語： OTDR

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分類 (1件)： 屈折及び反射の測定と装置  (BD07060V)

引用文献 (14件)：

• TAKADA, K. Appl. Opt. 1987, 26, 1606
• YOUNGQUIST, R. C. Opt. Lett. 1987, 12, 158
• BEAUD, P. IEEE J. Quantum Electron. 1989, 25, 755
• CHEN, H. Opt. Lett. 1991, 16, 487
• HUANG, D. Science. 1991, 254, 1178

タイトルに関連する用語 (6件)： 広帯域 ,  連続波 ,  多モード ,  半導体レーザ ,  高分解能 ,  時間領域反射率測定