文献

J-GLOBAL ID：200902155839639622   整理番号：93A0994891

Φ試験 試験の応答信号を検証するための完全ハッシュ化索引試験

Φ-Test: Perfect Hashed Index Test for Test Response Validation.

著者 (1件)： GUPTA R (General Electric Corporate R&D, NY)
資料名： Proceedings. IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers & Processors  (Proceedings. IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers & Processors)
巻： 1993  ページ： 588-591  発行年： 1993年 
JST資料番号： D0858B  ISSN： 1063-6404  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 特別に仕立てた順序の入力信号により生まれる試験応答信号の正確...

シソーラス用語： 回路試験 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=93A0994891&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0858B") }}

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (5件)： 試験 ,  応答信号 ,  検証 ,  ハッシュ化 ,  索引