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J-GLOBAL ID：200902157721691150   整理番号：01A0189992

多目的パターン・フィッティングシステムRIETAN-2000とその微細孔物質への応用

Multi-Purpose Pattern-Fitting System RIETAN-2000 and its Applications to Microporous Mterials.

著者 (2件)： 泉富士夫 (無機材質研) ,  池田卓史 (無機材質研)
資料名： 日本結晶学会誌  (Journal of the Crystallographic Society of Japan)
巻： 42  号： 6  ページ： 516-521  発行年： 2000年12月22日 
JST資料番号： G0232A  ISSN： 0369-4585  CODEN： NKEGAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： Rietveld法による格子・構造パラメータの精密化,Le ...

シソーラス用語： *構造解析 ,...
準シソーラス用語： Le Bail法 ,...

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分類 (1件)： 構造決定法・回折結晶学一般  (BK01010X)

引用文献 (33件)：

• 1) F. Izumi: The Rietveld Method, ed. by R.A. Young, Chap. 13, Oxford Univ. Press, Oxford (1995) .
• 2) 泉富士夫: 波紋10 (2) , 21 (200O) .
• 3) H.M. Rietveld: J. Appl. Crystallogr. 2, 65 (1969) .
• 4) A. Le Bail, H. Duroy and J.L. Fourquet: Mater. Res. Bull. 23, 447 (1988) .
• 5) F. Izumi, S. Kumazawa, T. Ikeda and T. Ida: Powder Diffraction, ed. by S.P. Sen Gupta, p. 24, Allied Publ., New Delhi (1998) .

タイトルに関連する用語 (3件)： 微細孔 ,  物質 ,  応用