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J-GLOBAL ID：200902158204975498   整理番号：94A0049794

銀薄膜上のLB膜の全反射減衰法による測定

Attenuated Total Reflection(ATR) Measurements of LB Ultrathin Films on Ag Thin Films.

著者 (6件)： 若松孝 (茨城工高専) ,  本多章作 (新潟大) ,  斉木仁 (新潟大) ,  加藤景三 (新潟大) ,  金子双男 (新潟大) ,  小林敏志 (新潟大)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 93  号： 343(OME93 39-45)  ページ： 7-12  発行年： 1993年11月25日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 我々は,厚さ約50nmの銀薄膜上に有機分子をLB法で数層累積...

シソーラス用語： 金属薄膜 ,...
準シソーラス用語： LB膜 ,...

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分類 (2件)： 光物性一般  (BM08010A) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (3件)： 銀薄膜 ,  LB膜 ,  全反射減衰法