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J-GLOBAL ID:200902159147894199   整理番号:95A0499493

先端製品を支える最新画像応用検査・計測技術 赤外線画像による材料内部欠陥の検出

Inspection and Shape Measurement Using Image Processing. Development of Thermographic NDT for Embedded Defects.
著者 (2件):
資料名:
巻: 61  号:ページ: 630-635  発行年: 1995年05月 
JST資料番号: F0268A  ISSN: 0912-0289  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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欠陥のある材料を加熱した時,材料表面に現れた欠陥による温度場...
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