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J-GLOBAL ID：200902160179799005   整理番号：93A0845507

表面X線回折ロッドの測定に対する装置効果 分解能関数と活性試料面積

Instrumental Effects on Measurements of Surface X-ray Diffraction Rods: Resolution Function and Active Sample Area.

著者 (2件)： TONEY M F (IBM Almaden Research Center, CA, USA) ,  WIESLER D G (National Inst. Standards and Technology, MD, USA)
資料名： Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography  (Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography)
巻： 49  号： 4  ページ： 624-642  発行年： 1993年07月01日 
JST資料番号： A0315B  ISSN： 0108-7673  CODEN： ACACEQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面に垂直な散乱ベクトル成分(Q_z)が...

シソーラス用語： X線回折 ,...

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分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (7件)： 表面X線回折 ,  ロッド ,  分解能 ,  関数 ,  活性 ,  試料 ,  面積