析出物を含むNi<sub>3</sub>(Al,Ti)およびTiAl化合物における厚さ測定への示差X線吸収法の適用

TIAN W H; HORITA Z; SANO T; NEMOTO M

文献

J-GLOBAL ID：200902160617962801 整理番号：93A0637640

析出物を含むNi₃(Al,Ti)およびTiAl化合物における厚さ測定への示差X線吸収法の適用

An application of the differential X-ray absorption method to thickness measurement in precipitate-containing Ni₃(Al,Ti) and TiAl compounds.

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資料名：
巻： 67 号： 6 ページ： 811-822 発行年： 1993年06月
JST資料番号： H0004B ISSN： 1364-2812 CODEN： PMABDJ 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

示差X線吸収(DXA)法を,細分散析出物粒子を含む二つの型の...

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析出物を含むNi3(Al,Ti)およびTiAl化合物における厚さ測定への示差X線吸収法の適用

析出物を含むNi₃(Al,Ti)およびTiAl化合物における厚さ測定への示差X線吸収法の適用