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J-GLOBAL ID：200902161604555278   整理番号：94A0023298

Locally resolved X-ray investigations by means of X-ray optics.

著者 (3件)： KRUTZENBICHLER A (Federal Armed Forces Univ., Neubiberg, DEU) ,  KEIMEL J (Federal Armed Forces Univ., Neubiberg, DEU) ,  FRITSCH G (Federal Armed Forces Univ., Neubiberg, DEU)
資料名： Materials Science Forum  (Materials Science Forum)
巻： 133/136  号： Pt 1  ページ： 243-248  発行年： 1993年 
JST資料番号： D0716B  ISSN： 0255-5476  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)