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J-GLOBAL ID：200902162641833535   整理番号：98A0964606

二次イオン質量分析による有機薄膜の分析のためのSF₅⁺多原子一次イオンビームの予備評価

Preliminary Evaluation of an SF₅⁺ Polyatomic Primary Ion Beam for Analysis of Organic Thin Films by Secondary Ion Mass Spectrometry.

著者 (2件)： GILLEN G (National Inst. Standards and Technol., MD, USA) ,  ROBERSON S (National Inst. Standards and Technol., MD, USA)
資料名： Rapid Communications in Mass Spectrometry  (Rapid Communications in Mass Spectrometry)
巻： 12  号： 19  ページ： 1303-1312  発行年： 1998年 
JST資料番号： T0695A  ISSN： 0951-4198  CODEN： RCMSEF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標題のkeV一次イオンビームを,純生体分子の蒸発沈積薄膜,高...

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,...
準シソーラス用語： 橋架け化合物

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分類 (2件)： 質量スペクトル(分子)  (BH06100V) ,  イオン放出  (BM09070V)

物質索引 (11件)： アセチルコリン ,  コカイン ,  グルタミン酸 ,  ドデシル硫酸ナトリウム ,  ベンゾ[ghi]ペリレン ,  1-ドデカンチオール ,  Gly-Gly-Gly-OH ,  テトラペンチルアミニウム・ブロミド ,  テトラペンチルアミニウム ,  テトラブチルアミニウム・クロリド ,  テトラブチルアミニウム

タイトルに関連する用語 (5件)： 二次イオン質量分析 ,  有機薄膜 ,  分析 ,  イオンビーム ,  評価