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J-GLOBAL ID：200902163512589780   整理番号：95A0374435

プリント配線板のイオンマイグレーションの発生と誘電特性

Generation of ionic migration on the printed circuit board and dielectric characteristics.

著者 (3件)： 津久井勤 (東海大) ,  山口元男 (日立) ,  横須賀洋児 (日立化成工業)
資料名： 電気学会誘電・絶縁材料研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： DEI-95  号： 39-45  ページ： 19-28  発行年： 1995年03月08日 
JST資料番号： Z0908B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： プリント基板の高密度実装化と高性能化が進む一方,絶対的な絶縁...

シソーラス用語： エレクトロマイグレーション ,...

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分類 (2件)： プリント回路  (NA05040O) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (11件)：

• 桑嶋邦明. サーキットテクノロジ. 1993, 8, 9
• 津久井勤. プリント回路板の絶縁信頼性. プリント回路学会絶縁信頼性研究部会技術報告. 1994, 13
• KOHMAN, G. T. Bell Syst. Tech. Journal. 1955, XXXI, 1115
• KAWANOBE, T. Conf., 1982. 1982, 220
• LANDO, D. J. IEEE 17th Ann. Proc. on Reliability Phys., 1979. 1979, 51

タイトルに関連する用語 (3件)： プリント配線板 ,  イオンマイグレーション ,  誘電特性