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J-GLOBAL ID：200902163804927466   整理番号：94A0145907

表面および薄膜分析のための無機質量分析

Inorganic mass spectrometry for surface and thin film analysis.
著者 (1件)：
OECHSNER H

OECHSNER H について

(Univ. Kaiserslautern, Kaiserslautern, DEU)

Univ. Kaiserslautern, Kaiserslautern, DEU について


資料名：
Analytica Chimica Acta  (Analytica Chimica Acta)

Analytica Chimica Acta について


巻： 283  号： 1  ページ： 131-138  発行年： 1993年11月15日 
JST資料番号： A0394A  ISSN： 0003-2670  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
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スパッタ除去粒子の質量分析に関する基礎的事項についてまとめた...
シソーラス用語：
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表面分析

表面分析 について

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二次中性質量分析

二次中性質量分析 について


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分類 (2件)：
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質量分析 
(CC03013N)

質量分析 について

,  固体の表面構造一般 
(BK15010E)

固体の表面構造一般 について

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質量分析

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