文献

J-GLOBAL ID：200902164314277095   整理番号：01A0610298

3次元画像計測のための投影パターン制御

Projection Pattern Control for 3-D Image Measurement.

著者 (2件)： 長元気 (福岡工大 工) ,  LU C (福岡工大 工)
資料名： システム制御情報学会研究発表講演会講演論文集  (Proceedings of the Annual Conference of the Institute of Systems, Control and Information Engineers)
巻： 45th  ページ： 611-612  発行年： 2001年05月08日 
JST資料番号： X0014A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 計測物体の周囲の明るさが変化する場合や計測物体の大きさ,色等...

シソーラス用語： *三次元測定 ,...

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分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (2件)： 3次元画像計測 ,  投影