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J-GLOBAL ID：200902164524931642   整理番号：94A0080005

シンクロトロン放射源に設置した3軸結晶回折計により測定したBragg強度プロフィルの半値幅 I YIG及びSi単結晶の半値幅

The Half-Widths of Bragg Intensity Profiles Measured with a Triple-Crystal Diffractometer at a Synchrotron-Radiation Source. II. The Half-Widths of YIG and Si Single Crystals.

著者 (5件)： ROSSMANITH E (Univ. Hamburg, Hamburg, DEU) ,  WERNER M (Univ. Hamburg, Hamburg, DEU) ,  KUMPAT G (Univ. Hamburg, Hamburg, DEU) ,  ULRICH G (Univ. Hamburg, Hamburg, DEU) ,  EICHHORN K (Univ. Karlsruhe, Karlsruhe, DEU)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 26  号： 6  ページ： 756-762  発行年： 1993年12月01日 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 著者の一人[J.Appl.Cryst.26,753(1993...

シソーラス用語： シンクロトロン放射 ,...
準シソーラス用語： YIG【ガーネット】

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分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (9件)： シンクロトロン ,  放射源 ,  3軸 ,  結晶 ,  回折計 ,  プロフィル ,  半値幅 ,  YIG ,  Si単結晶