文献

J-GLOBAL ID：200902164904789539   整理番号：94A0726781

Rapid evaluation of thin film interfacial reactions using temperature-ramped measurements.

著者 (5件)： HARPER J M E (IBM Thomas J. Watson Research Center, NY) ,  CLEVENGER L A (IBM Thomas J. Watson Research Center, NY) ,  COLGAN E G (IBM Thomas J. Watson Research Center, NY) ,  CABRAL C JR (IBM Thomas J. Watson Research Center, NY) ,  ARCOT B (Rensselaer Polytechnic Inst., NY)
資料名： Interface Control of Electrical, Chemical, and Mechanical Properties  (Interface Control of Electrical, Chemical, and Mechanical Properties)
ページ： 307-318  発行年： 1994年 
JST資料番号： K19940585  ISBN： 1-55899-217-0  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： RaPID