特集 極微量分析の現状と定量下限 蛍光X線分析法

文献

J-GLOBAL ID：200902165325005816 整理番号：94A0751788

特集極微量分析の現状と定量下限蛍光X線分析法

Lower Limit of Quantification iwht X-ray Fluorescence Analysis.

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著者 (1件)：
資料名：
巻： 33 号： 4 ページ： 368-373 発行年： 1994年04月
JST資料番号： F0163A ISSN： 1340-2625 CODEN： MTERE2 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

本分析法における定量下限はピーク及びブランク測定誤差と感度な...

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金属,合金の物理分析 , 分光分析

引用文献 (3件)：

(1) E. P. Bertin: Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, 2nd ed. Plenum Press,(1975), p.153.
(3) 大橋一隆博士論文 (1994).
(4) 薬師寺健次, 大川真司: X線分析の進歩, 24巻, アグネ,(1993), p.97.

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