UX<sub>3</sub>(X=Al,Si,Ga,Ge,In,Sn)の高圧X線回折研究

LE BIHAN T; HEATHMAN S; DARRACQ S; ABRAHAM C; WINAND J-M; BENEDICT U

文献

J-GLOBAL ID：200902166707314963 整理番号：96A0867344

UX₃(X=Al,Si,Ga,Ge,In,Sn)の高圧X線回折研究

High pressure x-ray diffraction studies of UX₃ (X=Al, Si, Ga, Ge, In, Sn).

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資料名：
巻： 27/28 号： 2 ページ： 157-162 発行年： 1995年
JST資料番号： E0486A ISSN： 0018-1544 CODEN： HTHPAK 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

標記金属間ウラン化合物の高圧(~40GPa,UGa<sub>...

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固相転移

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UX₃(X=Al,Si,Ga,Ge,In,Sn)の高圧X線回折研究