文献
J-GLOBAL ID：200902166849514706
整理番号：93A0564976
Characterization of materials using surface and thin-film analysis techniques.
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著者 (1件)：
資料名：
巻：
170
号：
2
ページ：
97-110
発行年：
1993年05月
JST資料番号：
B0454B
ISSN：
0022-2720
資料種別：
逐次刊行物 (A)
発行国：
イギリス (GBR)
言語：
英語 (EN)
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