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J-GLOBAL ID：200902167793694370   整理番号：02A0920592

全反射蛍光XAFSによる酸化チタン系二次元ナノ物質の局所構造解析

著者 (7件)： 福田勝利 (東京理大 理) ,  中井泉 (東京理大 理) ,  佐々木高義 (物材機構 物質研) ,  海老名保男 (物材機構 物質研) ,  原田賢 (物材機構 物質研) ,  田中智博 (物材機構 物質研) ,  渡辺遵 (物材機構 物質研)
資料名： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
巻： 38th  ページ： 53-54  発行年： 2002年10月28日 
JST資料番号： S0881A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 層状チタン酸化物を,その結晶構造の基本ユニットである層1枚に...

シソーラス用語： *蛍光X線分析 ,...
準シソーラス用語： 全反射蛍光X線分析

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分類 (2件)： 無機化合物の物理分析  (CC03024P) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 蛍光 ,  XAFS ,  酸化チタン ,  ナノ物質 ,  局所構造 ,  解析