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J-GLOBAL ID：200902168756205820   整理番号：94A0113611

HRTEM investigation of microdefects in FZ-silicon crystal grown at high rate.

著者 (4件)：
SOROKIN L M

SOROKIN L M について

(Ioffe Physical-Technical Inst., Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, SUN)

Ioffe Physical-Technical Inst., Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, SUN について

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HUTCHISON J L

HUTCHISON J L について

(Univ. Oxford, Oxford, GBR)

Univ. Oxford, Oxford, GBR について

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PONOMORIOVA N B

PONOMORIOVA N B について

(Ioffe Physical-Technical Inst., Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, SUN)

Ioffe Physical-Technical Inst., Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, SUN について

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FALKEVICH E S

FALKEVICH E S について

(Ioffe Physical-Technical Inst., Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, SUN)

Ioffe Physical-Technical Inst., Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, SUN について


資料名：
Institute of Physics Conference Series  (Institute of Physics Conference Series)

Institute of Physics Conference Series について


号： 134  ページ： 107-110  発行年： 1993年 
JST資料番号： E0403B  ISSN： 0305-2346  CODEN： IPHSAC  資料種別： 会議録 (C)
発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (1件)：
タイトルに関連する用語
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HRTEM

HRTEM について


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