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J-GLOBAL ID：200902170850772597   整理番号：99A0347911

トランケート面評価のための表面おうとつ形状のリロケーションに関する研究 (第2報) 2次元断面曲線の統計情報に基づいた方法

A Relocation Technique of Surface Asperity Profiles for Evaluating Truncated Surface. (2nd Report). Based on Statistical Values of Two-dimensional Profiles.

著者 (3件)： 直井一也 (東京工大 大学院) ,  笹島和幸 (東京工大 大学院) ,  塚田忠夫 (東京工大 大学院)
資料名： 精密工学会誌  (Journal of the Japan Society for Precision Engineering)
巻： 65  号： 3  ページ： 423-427  発行年： 1999年03月 
JST資料番号： F0268A  ISSN： 0912-0289  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： トランケート面評価のための表面凹凸形状のリロケーション法につ...

シソーラス用語： *形状測定 ,...

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分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

引用文献 (2件)：

• 笹島和幸. トランケート面評価のための表面おうとつ形状のリロケーションに関する研究 (第1報) -2次元断面曲線の形状合致度に基づいた方法-. 精密工学会誌. 1997, 63, 12, 1764
• PEITGEN, H. -O. The Science of Fractal Images. 1988, 82-94

タイトルに関連する用語 (6件)： 評価 ,  リロケーション ,  研究 ,  2次元 ,  曲線 ,  統計情報