文献

J-GLOBAL ID：200902171219300574   整理番号：94A0002013

Microelectronic component testing using circuit modeling.

著者 (3件)： BREAUX P J (Southwest Research Inst., Texas) ,  CASEY P J (Southwest Research Inst., Texas) ,  ALEXANDER J F (Southwest Research Inst., Texas)
資料名： IEEE AUTOTESTCON  (IEEE AUTOTESTCON)
巻： 1993  ページ： 521-528  発行年： 1993年 
JST資料番号： D0707A  ISSN： 1088-7725  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)