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J-GLOBAL ID：200902171755320995   整理番号：98A0468288

化学的力顕微鏡によるタッピングモードでの化学的増感撮像 位相の遅れと付着の関係

Chemically-Sensitive Imaging in Tapping Mode by Chemical Force Microscopy: Relationship between Phase Lag and Adhesion.

著者 (5件)： NOY A (Harvard Univ., Massachusetts) ,  SANDERS C H (Harvard Univ., Massachusetts) ,  VEZENOV D V (Harvard Univ., Massachusetts) ,  WONG S S (Harvard Univ., Massachusetts) ,  LIEBER C M (Harvard Univ., Massachusetts)
資料名： Langmuir  (Langmuir)
巻： 14  号： 7  ページ： 1508-1511  発行年： 1998年03月31日 
JST資料番号： A0231B  ISSN： 0743-7463  CODEN： LANGD5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 末端基が異なる適当なアルカンチオールの自己集合単分子膜(SA...

シソーラス用語： *チオール ,...

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分類 (1件)： 固-液界面  (CB12050B)

物質索引 (2件)： 1-ヘキサデカンチオール ,  16-メルカプトヘキサデカン酸

タイトルに関連する用語 (7件)： 化学 ,  力顕微鏡 ,  タッピングモード ,  化学的増感 ,  撮像 ,  位相 ,  遅れ