X線線光源を用いた位相シフトX線シヤリング干渉計を用いた位相イメージング

文献

J-GLOBAL ID：200902172389373785 整理番号：01A0156228

Phase Imaging with a Phase-Shifting X-ray Shearing Interferometer Using an X-ray Line Source.

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巻： 7 号： 6 ページ： 561-565 発行年： 2000年11月
JST資料番号： L2272A ISSN： 1340-6000 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

線光源を用いたX線シヤリング干渉計を提案した。線光源はX線ビ...

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X線技術

引用文献 (5件)：

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BONSE, U. Proc. SPIE. 1997, 3149, 108
DAVIS, T. Nature. 1995, 373, 595
IWATA, K. Jpn. J. Appl. Phys. 1999, 38, 6335
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