文献
J-GLOBAL ID:200902174312214644
整理番号:96A0878975
三次元分析のための電子・イオンデュアル収束ビーム装置の試作 (II)
Electron and Ion Dual Focused Beam Apparatus for Three Dimensional Analysis. (II).
-
出版者サイト
複写サービスで全文入手
-
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=96A0878975&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=Y0055A") }}