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J-GLOBAL ID：200902176781842250   整理番号：98A0481880

Si(100)表面のラフネスおよびSi(100)表面上のGeドットの研究

Si(100) Surface Raughness and Ge Dots on Si(100).

著者 (5件)： 二宮信幸 (広島市大) ,  八方直久 (広島市大) ,  藤原真 (広島市大) ,  岩松雅夫 (広島市大) ,  堀居賢樹 (広島市大)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 45th  号： 1  ページ： 474  発行年： 1998年03月 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (4件)： Si ,  Ge ,  ドット ,  研究