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J-GLOBAL ID：200902177251426545   整理番号：94A0293372

In Situ Transmission Electron Microscopy of Semiconductors.

著者 (4件)： HEYDENREICH J (Max-Planck-Inst. Mikrostrukturphysik Halle/Saale, DEU) ,  BAITHER D (Max-Planck-Inst. Mikrostrukturphysik Halle/Saale, DEU) ,  HOEHL D (Max-Planck-Inst. Mikrostrukturphysik Halle/Saale, DEU) ,  MESSERSCHMIDT U (Max-Planck-Inst. Mikrostrukturphysik Halle/Saale, DEU)
資料名： Physica Status Solidi. A. Applied Research  (Physica Status Solidi. A. Applied Research)
巻： 138  号： 2  ページ： 505-515  発行年： 1993年08月16日 
JST資料番号： D0774A  ISSN： 0031-8965  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)