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J-GLOBAL ID：200902177976140000   整理番号：01A0732073

Ni,Rh及びPt上に吸着したNOの幾何学及び電子構造のX線近吸収端微細構造(NEXAFS)と共鳴光電子分光による評価

Geometric and electronic structures of NO adsorbed on Ni, Rh and Pt studied by using near edge X-ray absorption fine structure(NEXAFS) and resonant photoemission spectroscopy.

著者 (6件)： SAITO T (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol.(AIST), Ibaraki, JPN) ,  IMAMURA M (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol.(AIST), Ibaraki, JPN) ,  MATSUBAYASHI N (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol.(AIST), Ibaraki, JPN) ,  FURUYA K (Sci. Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KIKUCHI T (Sci. Univ. Tokyo in Yamaguchi, Yamaguchi, JPN) ,  SHIMADA H (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol.(AIST), Ibaraki, JPN)
資料名： Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena  (Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 119  号： 1  ページ： 95-105  発行年： 2001年07月 
JST資料番号： D0266C  ISSN： 0368-2048  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 130~600Kの温度でNi,Rh及びPt上に吸着したNOの...

シソーラス用語： *光電子スペクトル ,...
準シソーラス用語： 結合距離 ,...

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分類 (3件)： 物理的手法を用いた吸着の研究  (CB12043P) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (14件)： Ni ,  Rh ,  Pt ,  吸着 ,  NO ,  幾何学 ,  電子構造 ,  X線 ,  吸収端 ,  微細構造 ,  NEXAFS ,  共鳴 ,  光電子分光 ,  評価