文献

J-GLOBAL ID：200902178732894360   整理番号：97A0028237

高分解能透過形電子顕微鏡によるCo合金薄膜の積層欠陥密度の解析

Analyses of Stacking Fault Density in Co-Alloy Thin Films by High-Resolution Transmission Electron Microscopy.

著者 (2件)： ISHIKAWA A (Hitachi Ltd., Kanagawa, JPN) ,  SINCLAIR R (Stanford Univ., CA, USA)
資料名： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 32  号： 5 Pt 1  ページ： 3605-3607  発行年： 1996年09月 
JST資料番号： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 積層欠陥密度が,CoCrTa/Cr及びCoCrPt/Cr膜の...

シソーラス用語： 磁気ディスク ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=97A0028237&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=A0339B") }}

分類 (2件)： 金属結晶の磁性  (BM06040T) ,  磁性材料  (NA04040H)

タイトルに関連する用語 (6件)： 高分解能 ,  透過形電子顕微鏡 ,  CO ,  合金薄膜 ,  欠陥密度 ,  解析