発変電所整流装置搭載パワー半導体素子の長期信頼性評価

文献

J-GLOBAL ID：200902180526632397 整理番号：00A0359908

Long-term Reliability Evaluation of Power Semiconductor Devices used in Power Station Rectifiers and Substation Rectifiers.

出版者サイト {{ this.onShowPLink() }} 複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=00A0359908&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=00A0359908&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=X0451A") }}

著者 (2件)： ,
資料名：
巻： 120-D 号： 3 ページ： 397-403 発行年： 2000年03月01日
JST資料番号： X0451A ISSN： 0913-6339 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

発変電所で15年以上使用したパワー半導体素子1099個につい...

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=00A0359908&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=X0451A") }}

整流器 , 固体デバイス計測・試験・信頼性

引用文献 (5件)：

菅原. 変電所整流装置搭載パワー半導体素子の長期信頼性(1). 平成9年電気学会全国大会
堀内. 変電所整流装置搭載パワー半導体素子の長期信頼性(2). 平成10年電気学会全国大会
HORIUCHI, T. Long-term Reliability Evaluation of Power Semiconductor Devices Used in Substation Rectifiers. The 10th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs:Proceedings of 10th ISPSD. 1998, 195-198
野中保雄. 日科技連信頼性工学シリーズ第5巻信頼性データのとり方まとめ方. 48-56
安食恒雄. 半導体デバイスの信頼性技術. 79

, , , , ,

前のページに戻る