X線反射能を用いることによる銀ナノ粒子から成る単分子膜および規則正しく積み重なった多重層の構造特性評価

KUWAJIMA S; OKADA Y; YOSHIDA Y; ABE K; TANIGAKI N; YAMAGUCHI T; NAGASAWA H; SAKURAI K; YASE K

文献

J-GLOBAL ID：200902183010157292 整理番号：02A0218219

X線反射能を用いることによる銀ナノ粒子から成る単分子膜および規則正しく積み重なった多重層の構造特性評価

Structural characterization of monolayer and regularly stacked multi-layers composed of silver nanoparticles by using X-ray reflectivity.

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Colloids and Surfaces. A. Physicochemical and Engineering Aspects (Colloids and Surfaces. A. Physicochemical and Engineering Aspects)

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巻： 197 号： 1/3 ページ： 1-5 発行年： 2002年02月04日
JST資料番号： A0539B ISSN： 0927-7757 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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