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J-GLOBAL ID：200902185700674306   整理番号：99A0104118

最近の2次元複屈折計測法と応用 位相シフト法による2次元複屈折測定

Two-Dimensional Birefringence Distribution Measurement Using Phase Shifting Technique.

著者 (2件)： 大谷幸利 (東京農工大 工) ,  吉沢徹 (東京農工大 工)
資料名： 光学  (Japanese Journal of Optics)
巻： 27  号： 12  ページ： 698-703  発行年： 1998年12月 
JST資料番号： G0125B  ISSN： 0389-6625  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 2次元の複屈折計測における各種方法の研究の現状を述べ,標記測...

シソーラス用語： *複屈折 ,...

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分類 (1件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K)

引用文献 (36件)：

• YOSHIZAWA, T. ed. International Symposium on Polarization and Applications to Device Technology. Proc. SPIE. 1996, 2873
• AZZAM, R. M. A. Ellipsometry and Polarized Light. 1987
• COLLETT, E. Polarized Light. 1993
• NAKADATE, S. High precision retardance measurement using phase detection of Young's fringes. Appl. Opt. 1990, 29, 242-246
• 持田悦宏. 位相変調による複屈折測定と応用. 光技術コンタクト. 1989, 27, 127-134

タイトルに関連する用語 (5件)： 2次元 ,  複屈折 ,  計測法 ,  応用 ,  位相シフト