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J-GLOBAL ID：200902186572787352   整理番号：93A0708451

Electron channelling contrast imaging of interfacial defects in strained silicon-germanium layers on silicon.

著者 (5件)： WILKINSON A J (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  ANSTIS G R (Univ. Technology, Sydney, AUS) ,  CZERNUSZKA J T (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  LONG N J (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  HIRSCH P B (Univ. Oxford, Oxford, GBR)
資料名： Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties  (Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties)
巻： 68  号： 1  ページ： 59-80  発行年： 1993年07月 
JST資料番号： E0753B  ISSN： 0141-8610  CODEN： PMAADG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)