文献
J-GLOBAL ID:200902186609501810
整理番号:95A0950829
SrTiO3およびBaxSr(1-x)TiO3薄膜の抵抗劣化の解析
Analysis of the Resistance Degradation of SrTiO3 and BaxSr(1-x)TiO3 Thin Films.
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著者 (4件):
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資料名:
巻:
34
号:
9B
ページ:
5245-5249
発行年:
1995年09月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
誘電体一般
, 半導体集積回路
引用文献 (12件):
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WASER, R. J. Am. Ceram. Soc. 1990, 73, 1645
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WASER, R. J. Am. Ceram. Soc. 1990, 73, 1654
-
BAIATSU, T. J. Am. Ceram. Soc. 1990, 73, 1663
-
SMYTH, D. M. Proc. 1st China-U.S. semin. Microstructure and Properties of Ceramic Materials. 1984, 399
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PENNEBAKER, W. B. IBM. J. Res. Dev. 1969, November, 686
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