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J-GLOBAL ID:200902186609501810   整理番号:95A0950829

SrTiO3およびBaxSr(1-x)TiO3薄膜の抵抗劣化の解析

Analysis of the Resistance Degradation of SrTiO3 and BaxSr(1-x)TiO3 Thin Films.
著者 (4件):
資料名:
巻: 34  号: 9B  ページ: 5245-5249  発行年: 1995年09月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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バルクのSrTiO3(ST)では,一定...
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分類 (2件):
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誘電体一般  ,  半導体集積回路 
引用文献 (12件):
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