W/Si多層膜の二重湾曲モノクロメータを用いた点集光小角X線散乱カメラ

SASANUMA Y; LAW R V; KOBAYASHI Y

文献

J-GLOBAL ID：200902187403628098 整理番号：96A0368914

W/Si多層膜の二重湾曲モノクロメータを用いた点集光小角X線散乱カメラ

A point-focusing small angle x-ray scattering camera using a doubly curved monochromator of a W/Si multilayer.

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資料名：
巻： 67 号： 3 Pt 1 ページ： 688-692 発行年： 1996年03月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

曲率半径R<sub>y</sub>=20400,R<sub>...

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X線回折法

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