Ni内部電極の積層セラミックコンデンサにおけるBT基材料のdc電気劣化  インピーダンス解析と微構造

CHAZONO H; KISHI H

文献

J-GLOBAL ID：200902187608418479 整理番号：01A1009116

Ni内部電極の積層セラミックコンデンサにおけるBT基材料のdc電気劣化インピーダンス解析と微構造

dc-Electrical Degradation of the BT-Based Material for Multilayer Ceramic Capacitor with Ni internal Electrode: Impedance Analysis and Microstructure.

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巻： 40 号： 9B ページ： 5624-5629 発行年： 2001年09月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

標記積層セラミックコンデンサ(MLCC)の電気特性を解析した...

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誘電体一般 , LCR部品

引用文献 (31件)：

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