HOCKANSON D M について
Univ. Missouri, MO, USA について
DREWNIAK J L について
Univ. Missouri, MO, USA について
HUBING T H について
Univ. Missouri, MO, USA について
VAN DOREN T P について
Univ. Missouri, MO, USA について
Northern Jaotong Univ., Beijing, CHN について
LAM C-W について
Viewlogic System, Inc., CA, USA について
RUBIN L について
Viewlogic System, Inc., CA, USA について
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility について
電磁干渉 について
プリント回路 について
インピーダンス について
電磁干渉 について
定量化 について