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J-GLOBAL ID:200902189891798560   整理番号:99A0326906

Si(111)上に部分イオン化ビームエピタクシーによって成長させたCaF2/CdF2三重障壁共鳴トンネルダイオードの負の微分抵抗

Negative Differential Resistance of CaF2/CdF2 Triple-Barrier Resonant-Tunneling Diode on Si(111) Grown by Partially Ionized Beam Epitaxy.
著者 (4件):
資料名:
巻: 38  号: 2A  ページ: L116-L118  発行年: 1999年02月01日 
JST資料番号: F0599B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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Si基板上の三重障壁CaF<sub>2</sub>/CdF<...
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分類 (2件):
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金属-絶縁体-半導体構造  ,  ダイオード 
引用文献 (10件):
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