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J-GLOBAL ID：200902190262322543   整理番号：01A0073775

スパッタMgO薄膜の可視光領域における屈折率の正確な測定

Precise determination of the refractive index of sputtered MgO thin films in the visible light range.

著者 (3件)： BABA S (Seikei Univ., Tokyo, JPN) ,  MORI I (Seikei Univ., Tokyo, JPN) ,  NAKANO T (Seikei Univ., Tokyo, JPN)
資料名： Vacuum  (Vacuum)
巻： 59  号： 2/3  ページ： 531-537  発行年： 2000年11月 
JST資料番号： E0347A  ISSN： 0042-207X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透明薄膜の光学定数を決定する技術について議論した。特定の波長...

シソーラス用語： *光学定数 ,...

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分類 (2件)： 光物性一般  (BM08010A) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (5件)： スパッタ ,  MgO ,  薄膜 ,  可視光領域 ,  屈折率