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J-GLOBAL ID：200902191466158161   整理番号：96A0324033

先端材料のための高角度暗視野STEM

High Angle Dark Field STEM for Advanced Materials.

著者 (4件)： PENNYCOOK S J (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  JESSON D E (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  MCGIBBON A J (Univ. Glasgow, Glasgow, GBR) ,  NELLIST P D (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
資料名： Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)
巻： 45  号： 1  ページ： 36-43  発行年： 1996年02月 
JST資料番号： G0104A  ISSN： 0022-0744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： STEMのインコヒーレント結像は高い像分解能,強いZコントラ...

シソーラス用語： 透過型走査電子顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (25件)：

• PENNYCOOK, S. J. High-resolution incoherent imaging of crystals. Phys Rev Lett. 1990, 64, 938-941
• PENNYCOOK, S. J. High-resolution Z-contrast imaging of crystals. Ultramicroscopy. 1991, 37, 14-38
• PENNYCOOK, S. J. Atomic-resolution Z-contrast imaging of interfaces. Acta Metall Mater. 1992, 40, S149-S159
• JESSON, D. E. Incoherent imaging of thin specimens using coherently scattered electrons. Proc R Soc Lond. 1993, A441, 261-281
• JESSON, D. E. Incoherent imaging of crystals using thermally scattered electrons. Proc R Soc Lond. 1995, A449, 273-293

タイトルに関連する用語 (3件)： 先端材料 ,  暗視野 ,  STEM