低コヒーレンスの干渉法的反射計を用いる半導体導波管の測定

KASAYA K; YOSHIKUNI Y; ISHII H

文献

J-GLOBAL ID：200902191806267998 整理番号：96A0257325

低コヒーレンスの干渉法的反射計を用いる半導体導波管の測定

Measurements of a Semiconductor Waveguide Using a Low-Coherence Interferometric Reflectometer.

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巻： 8 号： 2 ページ： 251-253 発行年： 1996年02月
JST資料番号： T0721A ISSN： 1041-1135 CODEN： IPTLEL 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

半導体導波管の損失と反射率を測定する道具として,低コヒーレン...

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光導波路,光ファイバ,繊維光学 , 屈折及び反射の測定と装置

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