文献
J-GLOBAL ID：200902191832141200   整理番号：02A0335344

波長走査干渉法による光学平行板の試験での多重ビーム干渉雑音の抑制

Suppression of Multiple-Beam Interference Noise in Testing an Optical-Parallel Plate by Wavelength-Scanning Interferometry.
著者 (2件)：
HIBINO K

HIBINO K について

(National Inst., Industrial Sci. and Technol., Tukuba, JPN)

National Inst., Industrial Sci. and Technol., Tukuba, JPN について

, 
TAKATSUJI T

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(National Inst., Industrial Sci. and Technol., Tukuba, JPN)

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資料名：
Optical Review  (Optical Review)

Optical Review について


巻： 9  号： 2  ページ： 60-65  発行年： 2002年03月 
JST資料番号： L2272A  ISSN： 1340-6000  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
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Fizeau干渉計で行う光学平行板の試験は反射雑音を効果的に...
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*干渉計

干渉計 について

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Fizeau干渉計

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分類 (1件)：
分類
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干渉測定と干渉計 
(BD07070G)

干渉測定と干渉計 について

引用文献 (15件)：
  • MANTRAVADI, M. V. Optical Shop Testing. 1992, 22
  • SCHWIDER, J. Appl. Opt. 1983, 22, 3421
  • WINGERDEN, J. Appl. Opt. 1991, 30, 2718
  • OKADA, K. Appl. Opt. 1990, 29, 3280
  • ISHII, Y. Opt. Lett. 1987, 12, 233
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タイトルに関連する用語 (9件)：
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走査

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光学

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試験

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多重

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ビーム

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干渉雑音

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